AOP 定制

AOP 定制

一款模块化表面测量解决方案，可提供广阔范围的3D影像传感器

为了满足各种严苛的测量需求，高灵活兼具高精度的定制化解决方案应运而生

AOP平台是Solarius最灵活的针对各种定制测量任务的模块化解决方案。根据需求，它可以配备不同的3D测量传感器，多种尺寸的线性马达以及定制化软件。这样的灵活性支持广范围的多样化应用及工作环境，可以根据每个客户的需求量身定制。

传感器类型	彩色共聚焦点传感器彩色共聚焦线传感器共聚焦矩阵传感器白光干涉矩阵传感器变焦矩阵传感器点三角传感器线三角传感器
平面测量范围	最大500mm x 500mm
垂直测量范围	100 µm 至 80 mm
平面分辨率	最大1um
垂直分辨率	最大1纳米
供货范围	标准系统轴及控制器根据规格配置传感器系统PC，笔记本电脑 Solar Scan NT软件，Win10 x64 Solar Map数据分析软件定制化图像处理方案自动化测量路径

模块化的AOP系统可配置多种无损测量传感器，包括光谱共聚焦点、线传感器、共聚焦面传感器、激光三角线传感器、白光干涉传感器以及二维平面成像系统，可以实现最高10nm的高度分辨率以及在0.13s内高达80,000点的高速测量。优秀的隔振系统以及高达500mm以上的水平测量范围使得其成为应对各种测量任务的最佳解决方案。