3D Messtechnik
20 Jahre Unabhängige 3D Machine Vision Expertise
Ein vollständiges Sortiment optischer 3D Messtechnologien erlaubt die freie Auswahl der wirtschaftlich wie technisch besten Lösung – unabhängig von Hersteller, Marke oder einer bestimmten Technologie ist Solarius Ihr Garant für Innovation und Fortschritt in Ihrer QS 4.0
Die 3-Dimensionale Erfassung von Oberflächeneigenschaften, gleich ob Topografie, Textur oder tribologische Parameter, wird durch eine Vielzahl physikalisch verschiedener optischer Abbildungsprinzipien ermöglicht. Diese Abbildungsprinzipien erlauben eine wirklichkeitsgetreue, vollständige und schnelle Digitalisierung von technischen Oberflächen und auf dieser Basis eine echtzeitfähige, automatisierbare und zuverlässige Analyse dieser Daten zum Zweck der Überwachung und Steuerung von Prozessen sowie für die eigentliche Sicherung der Qualität von Produkten. Auch die Rückverfolgbarkeit der Daten in Form von Audit Trails oder eine nachträgliche Überprüfbarkeit von Ergebnissen ist durch eine Archivierung dieser digitalisierten Oberflächen jederzeit einfach und transparent möglich. Die optische 3D Messtechnik für technische Oberflächen ist ein elementarer Bestandteil der umfassenden Digitalisierung der industriellen Produktion, auch bekannt unter dem Namen High-Tech Projekt Industrie 4.0
Mittels der verschiedenen 3D Abbildungsprinzipien werden digitale Abbilder von Formen, Texturen, Rauheit und Schichten erzeugt. Jedes der 3D Abbildungsprinzipien zeigt natürliche Stärken und Schwächen gegenüber dem individuellen Charakter von Objekten. Je nach Eigenschaft einer Oberfläche, dem Material des Werkstücks oder der endgültigen Verwendung eines Produkts kann sich ein bestimmtes Abbildungsprinzip als vorteilhaft gegenüber den anderen Prinzipien erweisen. Erfahrung in der Anwendung optischer Messtechnik und eine unabhängige Technologiewahl sind essenziell. Darüber hinaus hat jedes einzelne der Abbildungsprinzipien, im Laufe von mehr als 20 Jahren intensiver, industrieller Anwendung optischer 3D Messtechnik, unterschiedlichste Varianten der technischen Umsetzung und Ausgestaltung entwickelt um den jeweilig eigenen, natürlichen Schwächen bestmöglich zu begegnen. Die Vielzahl konkurrierender Technologien und Anbieter mit allen individuellen Vor- und Nachteilen macht die Auswahl der richtigen Technologie für eine bestimmte Aufgabe oder ein umfangreicheres Aufgabengebiet zu einer vielschichtigen und nicht trivialen Entscheidung.
Solarius SolarCore Software Plattform
Die Win10 Solarius SolarCore C++ Software Plattform führt Ingenieure und Bediener intuitiv und standardkonform durch individuelle Arbeitsabläufe. Ein konfigurierbares Nutzer- und Rollenmanagement ermöglicht die granulare Zugangskontrolle. Durch die mehrsprachige C# Nutzeroberfläche, derzeit verfügbar in Deutsch, Englisch und Chinesisch, bietet die Software höchste Flexibilität. Die intelligente Architektur erlaubt individuelle Anpassung, schnelle Integration neuer Geräte und Verarbeitung größter Datenmengen in Echtzeit.
Die Benutzeroberfläche integriert den vollständigen Prozess von Mess- und Prüfaufgaben mit den benötigten Funktionen für das Materail Handling durch ein einfaches und übersichtliches Funktionslayout. Der hohe Abstraktionsgrad und ein breites Spektrum an verfügbarer Messtechnik ermöglicht die Anpassung von QA Prozessen an nahezu alle Objekte und Fertigungsumgebungen.
Standardisierter Workflow für Waferfabs
Die SEMI konforme Nutzeroberfläche für die Waferfertigung Visualisiert und integriert Funktionalität für das Waferhandling sowie messtechnische Abläufe. Sie ermöglicht das Einlernen von Rasterrezepten für Wafer und plattenförmige Substrate, die Definition von Spezifikationsgrenzen und die Anzeige von Ergebnissen unter Berücksichtigung der individuellen Nutzerrechte. Eine detaillierte Betrachtung der Ergebnisse bis hin zu den einzelnen geprüften Objekten ist ebenso möglich wie ein schneller Überblick auf Kassetten- oder FOUP/FOSB-Ebene und ist die Arbeitsgrundlage für die Solarius SIMP Tools und eine Vielzahl von Anwendungen und Lösungen.
Der Workflow erlaubt es, Datenexporte über die Vorgabe von Dateinamen und Ordnerpfaden durch im Prozess erfasste QR- und DDM-Codes zu definieren. Ein Materialhandling für voll automatisierte Fertigungsumgebungen mittels OHT oder AGVs ist zusammen mit der SECS/GEM Schnittstellen-Toolbox verfügbar.
Kundenspezifischer Workflow für Zellkuturplatten
Neben spezifischen Benutzeroberflächen benötigen eine Vielzahl von QS Aufgaben individuell angepasste Interaktion, um Bedienern und Ingenieuren einen schnellen Überblick und effizientes Handeln zu ermöglichen. Bei manuell beladenen oder betriebenen Systemen ist es wesentlich, grafische Darstellungen der zu prüfenden Objekte zu implementieren, die dem Bediener einen schnellen und übersichtlichen Zugriff auf die Ergebnisse ermöglichen. Ebenso müssen die Funktionen zur Handhabung innerhalb derselben Ansicht zugänglich sein.
Die rechts gezeigte Ansicht ist ein spezielles Design für die Qualitätskontrolle von Zellkulturplatten. Im Rahmen dieser Inspektions- und Messaufgabe müssen geometrische und dimensionale Parameter der Zellkulturplatten überwacht und Beschädigungen und Ablagerungen erkannt werden. Alle Informationen werden in einer für farbenblinde Menschen geeigneten Ansicht zusammengefasst.
Daten- und Prozessschnittstellen
Die Solarius SolarCore Software-Plattform bietet verschiedene Schnittstellen für die Fabrikautomatisierung und Datentransfer. Die neueste Schnittstelle wurde für die MVTec HALCON Bildverarbeitungsbibliothek geschaffen. Die Schnittstelle ermöglicht die generische Implementierung kundenspezifischer Bildverarbeitung in die SolarCore Automatisierungsumgebung, das Setzen und Ändern von variablen Ein- und Ausgangsstrukturen für Daten und Parameter, ohne dass hierfür die Unterstützung von Solarius erforderlich ist. Darüber hinaus werden gängige Exportschnittstellen für CSV oder Excel sowie für kundenspezifisch definierte Ergebnisdatenstrukturen unterstützt. Die Software Plattform verfügt darüber hinaus über eine duale SQL Server Schnittstelle für Prozess- und Ergebnisdaten. Für die tiefergehende Automatisierung im Rahmen von Industrie 4.0 Projekten bietet die Plattform eine OPC/UA Server und Client Infrastruktur sowie eine vollständige 300 Millimeter SECS/GEM Schnittstelle, welche die SEMI-Standards E4, E5, E30, E37, E39, E40, E87, E90, E94, E116 und E84 AMHS unterstützt.
Rückverfolgbarkeit und Compliance
Der integrierte, FDA 21 CFR Part 11 konforme Audit Trail ist eine erweitertes Protokoll für prozessinformationen sowie die Rückverfolgung von Änderungen und kann mit elektronischen Benutzeridentifikationssystemen sowie mit dem Benutzer- und Rollenmanagement der Plattform verbunden werden. Ursprünglich wurde der Audit Trail für das 2020 an Boehringer Ingelheim Microparts gelieferte SIMP Tool entwickelt. Der Audit Trail ermöglicht eine FDA konforme, zuverlässige Nachverfolgung fertigungs- und QS relevanter Änderungen oder kann einfach als Meldungsfenster für die bedienerbasierte Systemüberwachung genutzt werden.
Sowohl die Softwareplattform als auch spezielle Bildverarbeitungsalgorithmik folgen den GAMP Richtlinien. Der Halbleiter Workflow der Nutzeroberfläche ist entsprechend den SEMI Standards implementiert.